涂層測(cè)厚儀采用無(wú)損檢測(cè)方法測(cè)厚既不破壞覆層也不破壞基材，檢測(cè)速度快，故能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。在化工，電子，電力，金屬等行業(yè)中，為了實(shí)現(xiàn)對(duì)各類材料的保護(hù)或裝飾作用，通常采用噴涂有色金屬覆蓋以及磷化、陽(yáng)極氧化處理等方法，這樣便出現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學(xué)生成膜等概念，我們稱之為“覆層”。
覆層的厚度測(cè)量已成為金屬加工工業(yè)已用戶進(jìn)行成品質(zhì)量檢測(cè)*的zui重要工序。是產(chǎn)品達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)的*手段。目前，國(guó)內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)定涂鍍層厚度，覆層無(wú)損檢測(cè)的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進(jìn)步而更加至關(guān)重要。
有關(guān)覆層無(wú)損檢測(cè)方法，主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面，系有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
X射線和β射線反射法可以無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍小。因有放射源，故，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范，一般多用于各層金屬鍍層的厚度測(cè)量。
電容法一般僅在很薄導(dǎo)電體的絕緣覆層厚度測(cè)試上應(yīng)用。
涂層測(cè)厚儀的校準(zhǔn)方法：
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。簡(jiǎn)稱標(biāo)準(zhǔn)片。
⒈ 校準(zhǔn)箔
對(duì)TT220涂層測(cè)厚儀“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。“箔”有利于曲面上的校準(zhǔn)。
⒉ 有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標(biāo)準(zhǔn)片。對(duì)于涂層測(cè)厚儀，覆蓋層應(yīng)是非磁性的。
涂層測(cè)厚儀使用方法和技巧
在使用涂層波測(cè)厚儀時(shí)注意對(duì)儀器的操作步驟及使用技巧，可以大大增加涂層測(cè)厚儀的使用壽命和測(cè)量的準(zhǔn)確度。涂層測(cè)厚儀使用注意事項(xiàng)：
1，使用涂層測(cè)厚儀測(cè)量時(shí)，探頭一定要垂直于被測(cè)物的表面；2，測(cè)量時(shí)不要拖動(dòng)探頭，因?yàn)檫@樣不僅對(duì)探頭會(huì)造成磨損，也不會(huì)得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果；3，測(cè)量時(shí)探頭線在銜接探頭的位置不能過(guò)分彎曲及抖動(dòng)（針對(duì)分體式涂層測(cè)厚儀），這樣會(huì)影響測(cè)試效果，從而得不到準(zhǔn)確而穩(wěn)定的測(cè)量結(jié)果；4，盡量保證涂層測(cè)厚儀為專人使用和保管；5如感覺(jué)測(cè)量結(jié)果偏差比較大時(shí)，請(qǐng)先用隨機(jī)配備的五片塑料校準(zhǔn)片做一輪測(cè)試，如偏離允許誤差較遠(yuǎn)則有可能是儀器本身出了問(wèn)題，需返廠檢修，切記不可自行拆卸自行維修。
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